标题：jima分辨率测试卡（二维和三维）
关键词：微焦点ct系统分辨率测试卡，ct分辨率测试卡，jima卡，jima测试卡，分辨率测试卡，微焦点分辨率测试卡，焦点尺寸测试卡，分辨率测试图样、分辨率测试仪器，分辨率测试方法，纳焦点分辨率测试卡，微纳焦点分辨率测试卡，jima chart
jima（日本检测仪器制造商协会），致力于关注各种检测仪器，其中包括无损检测仪器，jima分辨率测试卡，用于测量x射线系统的分辨率，以保证x射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。
型号：rt rc-02
测试卡封装在一个防护盒中
盒子的外形尺寸（w×d×t）：40×30×15mm
芯片尺寸（w×d×t）：5×5×0.06mm
图案布局：l型
线/空间尺寸：16种规格图案,
0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm,0.8μm,0.9μm,1.0μm,1.5μm,
2.0μm,3.0μm,4.0μm,5.0μm,6.0μm,7.0,10.0μm,15.0μm
型号：jima rt rc-05
测试卡封装在一个防护盒中
盒子的外形尺寸（w×d×t）：40×30×3mm
芯片尺寸（w×d×t）：8×8×0.2mm
图案布局：t型 （3-10μm）
i 型 （15-50μm）
线/空间尺寸：16种规格图案,
3μm,4μm,5μm,6μm,7μm,9μm,10μm （t型）
15μm,20μm,25μm,30μm,35μm,40μm,45μm,50μm (i 型)
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