产品型号：xd6500
产地：英国
英国dage公司x光测试仪设计满足pcb和半导体工业的增长需求，用户可以轻松获取高质量、高放大倍数和高分辨率下的被测物任何方位的图像。由于采用开管（open tube）技术，在放大倍数方面远远超过了采用闭管（closed tube）技术的x光检测仪达到亚微米级，能满足客户更高精度的需求。
dage
xl6500 x-ray检测设备是专为电子行业提供高端解决方案而设计的,适用于pcba装配工艺中的各种焊接缺陷及半导体封装缺陷的检测。如bga、csp、flip
chip、cob、qfn、qfp以及pth插件质量的检测,dage xl6500均可提供高清晰的光学图像。采用旋转载物台,可供多种不同尺寸的产品进行多角度检测,使检测更加全面可靠。除对pcba分析外,还可以扩展到pcba行业以外的其他领域,如太阳能、陶瓷片、电池、探针等。
美国dage xl6500检测仪规格
尺寸(长x宽x高)
1450 x 1700 x 1970mm
重量
1900 kg
小聚集光点
1micron
ｘ光管
开放管
x射线管电压范围
30-160 kv
检测面积
458mm x 407mm
板尺寸
508mm x 444mm
样本重量
5 kg
电源
单相200-230v/16a
斜角视图
0-70°(360°全方位检测)
系统（几何）放大倍率
1065x
辐射安 全标准
1usv/hr(符合欧美标准）
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