概述：
spa-6100半导体参数分析仪是武汉普赛斯自主研发、精益打造的一款半导体电学特性测试系统,具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持dc电流-电压(i-v)、电容-电压(c-v)以及高流高压下脉冲式i-v特性的测试,旨在帮助加快前沿材料研究、半导体芯片器件设计以及先进工艺的开发,具有桌越的测量效率与可靠性。 基于模块化的体系结构设计,spa-6100半导体参数分析仪可以帮助用户根据测试需要,灵活选配测量单元进行升级。产品支持z高1200v电压、100a大电流、1pa小电流分辨率的测量,同时检测10khz至1mhz范围内的多频ac电容测量。spa-6100半导体参数分析仪搭载普赛斯自主开发的专用半导体参数测试软件,支持交互式手动操作或结合探针台的自动操作,能够从测量设置、执行、结果分析到数据管理的整个过程,实现高效和可重复的器件表征;也可与高低温箱、温控模块等搭配使用,满足高低温测试需求。
产品特点：
30μv-1200v,1pa-100a宽量程测试能力； 测量精度高,全量程下可达0.03％精度；
内置标准器件测试程序,直接调用测试简便；
自动实时参数提取,数据绘图、分析函数； 在cv和iv测量之间快速切换而无需重新布线；
提供灵活的夹具定制方案,兼容性强； 免费提供上位机软件及scpi指令集；
典型应用：
纳米、柔性等材料特性分析；
二极管；
mosfet、bjt、晶体管、igbt；
第三代半导体材料/器件；
有机ofet器件；
led、oled、光电器件； 半导体电阻式等传感器； eel、vcsel、pd、apd等激光二极管； 电阻率系数和霍尔效应测量； 太阳能电池； 非易失性存储设备； 失效分析；
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